Elektrotechnik: Präzise Analyse, verlässliche Bauteile
Mit unseren hybriden Labor- und Expertenservices sichern wir die Qualität, Leistung und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten. Im ChipCheck-Labor untersuchen wir Halbleiter, Chips, SMD-Bauteile, Displays und mehr – von Schadensanalysen über Plagiatsnachweise bis zu modernsten Methoden wie CT, REM und Laser-Scanning.
![[#Beginning of Shooting Data Section]
Nikon D1X
Brennweite: 105mm
Weißabgleich: Glühlampenlicht
Farbmodus: Modus I (sRGB)
2008/10/08 08:24:38.2
Belichtungskorrektur: Manuell
AF Modus: Manuell
Farbsättigung: 0°
RAW (12-Bit )
Belichtungsmessung: Mehrfeld
Tonwertkorr.: Benutzerdefin.
Scharfzeichnung: Normal
Bildgröße: Groß (3008 x 1960)
1/5 Sekunden - f/36
Blitzsynchronisation: Nicht Beigefügt
Rauschunterdrückung:
Farbe
Belichtungskorrektur: 0 LW
Objektiv: 105mm f/2.8 D
Empfindlichkeit: ISO 400
Bildkommentar:
[#End of Shooting Data Section]](https://ia.certania.site/wp-content/uploads/2023/03/DSC_5955-768x500.jpg)
Qualitätssicherung an elektronischen Bauteilen
Visuelle Inspektionen
Mechanische Prüfungen
Schliffuntersuchungen
Röntgeninspektion
Funktionstest an Elektrokomponenten
Umweltsimulation
Schwachstellenanalyse
Lebensdauertests
Schockprüfung
Plagiatsprüfungen an Chips
Originalitätsprüfung
Re-Label Analysen
Solvent & Scratch Test
Schadensanalyse Elektrotechnik
Klärung der Ausfallursachen bei Korrosion oder mechanischen Besanspruchungen.
Untersuchung von Herstellungfehlern.
Mit modernsten Instrumenten und Techniken liefern wir präzise und zuverlässige Testergebnisse. Die GWP ist nach 17025 akkreditiert.
Wir verstehen, dass jeder Kunde einzigartige Anforderungen hat. Deshalb bieten wir maßgeschneiderte Prüfungen und Lösungen an, die auf Ihre spezifischen Bedürfnisse zugeschnitten sind. Egal, ob es sich um eine Einzelprüfung oder eine umfassende Qualitätsüberprüfung handelt, wir haben die Lösung für Sie.
Effizienz und Zeitersparnis: Unsere Laborprüfungen sind nicht nur präzise, sondern auch effizient. Wir arbeiten mit schnellen Reaktions- und Durchlaufzeiten.